集成電路檢測

我們的檢測優勢

1、初檢樣品小樣，初檢期間不收取任何費用。

2、健明迪檢測國家高新技術企業。

3、健明迪檢測所出具的食品檢測報告認可，支持掃碼查詢真偽。

4、健明迪檢測多家實驗室分支，支持上門取樣，也支持寄樣檢測。

5、檢測周期全，檢測費用低，實驗方案齊全。

檢測流程

1、寄樣。(咨詢工程師提交檢測需求，然后給我們郵寄樣品)

2、初檢樣品。(收到樣品之后，初檢樣品，制定詳細的實驗方案)

3、報價。(初檢之后，根據實驗復雜程度以及客戶檢測需求進行報價)

4、雙方確定，簽訂保密協議，開始實驗。(嚴格保護客戶隱私)

5、結束實驗。(7-10個工作日完成實驗)

6、郵寄檢測報告，后期服務。

檢測標準

GB/T 2900.66-2004電工術語 半導體器件和集成電路

GB/T 3430-1989半導體集成電路型號命名方法

GB/T 3431.2-1986半導體集成電路文字符號 引出端功能符號

GB/T 3436-1996半導體集成電路運算放大器系列和品種

GB/T 4023-2015半導體器件 分立器件和集成電路 第2部分：整流二極管

GB/T 4376-1994半導體集成電路 電壓調整器系列和品種

GB/T 4377-2018半導體集成電路 電壓調整器測試方法

GB/T 4587-1994半導體分立器件和集成電路 第7部分:雙極型晶體管

GB/T 4589.1-2006半導體器件 第10部分：分立器件和集成電路總規范

GB/T 4937.1-2006半導體器件 機械和氣候試驗方法 第1部分: 總則

GB/T 4937.18-2018半導體器件 機械和氣候試驗方法 第18部分：電離輻照(總劑量)

GB/T 4937.22-2018半導體器件 機械和氣候試驗方法 第22部分：鍵合強度

GB/T 5594.4-2015電子元器件結構陶瓷材料性能測試方法 第4部分：介電常數和介質損耗角正切值的測試方法

GB/T 5965-2000半導體器件 集成電路 第2部分:數字集成電路 第一篇 雙極型單片數字集成電路門電路(不包括自由邏輯陣列)空白詳細規范

GB/T 6219-1998半導體器件 分立器件 第8部分:場效應晶體管 第一篇 1GHz、5W以下的單柵場效應晶體管 空白詳細規范

GB/T 6351-1998半導體器件 分立器件 第2部分:整流二極管 第一篇 100A以下環境和管殼額定整流二極管空白詳細規范

GB/T 6648-1986半導體集成電路靜態讀/寫存儲器空白詳細規范(可供認證用)

GB/T 6798-1996半導體集成電路 電壓比較器測試方法的基本原理

GB/T 7092-2021半導體集成電路外形尺寸

GB/T 7509-1987半導體集成電路微處理器空白詳細規范(可供認證用)