GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫
IEC 60068-2-1：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2-1部分：試驗(yàn) 試驗(yàn)A：低溫
GB/T 2421電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第1部分：總則
GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化
GB/T 2424.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則
GB/T2424.5電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)

低溫試驗(yàn)可以試驗(yàn)產(chǎn)品在低限值工作環(huán)境溫度下的性能變化；試驗(yàn)產(chǎn)品在低溫的情況下能不能夠使用（比如手機(jī)能否啟動(dòng)）；試驗(yàn)產(chǎn)品在測(cè)試是能否帶電測(cè)試（比如手機(jī)在低溫情況下是否能夠邊充電邊使用）。 電子電工產(chǎn)品低溫試驗(yàn)?zāi)康氖强己嘶虼_定電工、電子產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件下貯存和（或）使用的適應(yīng)性。
健明迪檢測(cè)可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種電工電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸殡姽る娮赢a(chǎn)品提供專業(yè)的低溫試驗(yàn)服務(wù)。

健明迪檢測(cè)可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種電工電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸殡姽る娮赢a(chǎn)品提供專業(yè)的低溫試驗(yàn)服務(wù)。

1、試驗(yàn)Ab：非散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的低溫試驗(yàn) 本試驗(yàn)方法用來進(jìn)行非散熱試驗(yàn)樣品的低溫試驗(yàn)，試驗(yàn)樣品在低溫條件下放置足夠長(zhǎng)時(shí)問以達(dá)到溫度穩(wěn)定。
2、試驗(yàn)Ad：散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的低溫試驗(yàn)─試驗(yàn)樣品在溫度開始穩(wěn)定后通電 本試驗(yàn)方法用來進(jìn)行散熱試驗(yàn)樣品的低溫試驗(yàn)，試驗(yàn)樣品在低溫條件下放置足夠長(zhǎng)時(shí)間以達(dá)到溫度穩(wěn)定。
3、試驗(yàn)Ae：散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的低溫試驗(yàn)—試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過程通電 本試驗(yàn)方法用來進(jìn)行散熱試驗(yàn)樣品的低溫試驗(yàn)，試驗(yàn)樣品在低溫條件下放置足夠長(zhǎng)時(shí)間以達(dá)到溫度穩(wěn)定，并且要求試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過程中通電。