電工電子產品長霉試驗

試驗方法1
經過28d培養以后，確定：
1）外觀檢查確定霉菌生長程度；
2）長霉引起的物理損傷；
3）長霉條件下對功能和/或電性能的影響，如果相關規范中有要求。
如果相關規范要求檢查功能和/或測量電性能，培養期應延長至56 d。
試驗方法2
用營養液對樣品預處理后，進行為期28 d的培養，確定：
1）外觀檢查確定霉菌生長程度；
2）長霉引起的物理損傷；
3）長霉條件下對功能和/或電性能的影響，如果相關規范中有要求。 通過使用營養液來模擬污染未長霉的樣品，會降低樣品表面的防霉性能。
如果檢查功能和/或測量電氣性能，應當考慮該影響。 使用營養液就會發生長霉；如果沒有長霉，應當考慮防霉劑的影響。

電子電工產品長霉會造成產品結構破壞和性能下降， 產品故障甚至損壞，比如導線絕緣層迅速老化、橡膠脆化、密封圈失效、元器件的短路燒毀、絕緣性能失效、金屬光澤變暗發花、光學鏡頭的模糊等。
總之，電子電器產品長霉的后果是非常嚴重的，輕則影響產品質量和外觀，嚴重的話還會導致產品失效甚至引發重大質量事故。 電子電工產品長霉試驗可確定電子產品上長霉程度和長霉對產品特性及其他相關性能影響。
健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種電工電子產品的環境試驗能力，為電工電子產品提供專業的長霉試驗服務。

健明迪檢測可靠性實驗中心具備各種電工電子產品的環境試驗能力，為電工電子產品提供專業的長霉試驗服務。

GB/T 2423.16-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗J及導則：長霉
IEC 60068-2-10：2005 環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗J及導則：長霉
GB/T27025-2008檢測和校準實驗室能力的通用要求
ISO 846：1997塑料-微生物作用評價
MIL-STD-810 F：2000方法 508.5真菌

首先用肉眼檢查樣品，若有必要可用立體顯微鏡放大50倍左右進行檢查。按下述等級評定和描述長霉程度：
0級：在放大50倍下，沒有發現明顯長霉。
1級：顯微鏡下看到長霉痕跡。
2a級：肉眼看到稀疏長霉或者顯微鏡下看到分散、局部長霉，長霉面積不超過測試面積的5%。
2b級：肉眼明顯看到很多地方或多或少均勻長霉，長霉面積不超過測試面積的25%。
3級：肉眼明顯看到長霉，長霉面積超過了測試面積的25%。