在綜合作用力條件下，對(duì)暴露的試樣進(jìn)行的試驗(yàn)，要比前述任何示例環(huán)境條件試驗(yàn)更為嚴(yán)酷。施加的綜合低溫、高溫或溫度變化和碰撞或隨機(jī)振動(dòng)應(yīng)力條件應(yīng)與實(shí)際使用條件相符合。
壽命試驗(yàn)時(shí)，為了縮短試驗(yàn)時(shí)間，激發(fā)損傷，采用嚴(yán)酷程度較高等級(jí)的綜合試驗(yàn)方法，如老化，磨合或環(huán)境應(yīng)力篩選。 老化，磨合或環(huán)境應(yīng)力篩選是對(duì)光學(xué)和光子學(xué)儀器以及包含光學(xué)部件和電子組件的試驗(yàn)方法。
在系統(tǒng)關(guān)機(jī)或開(kāi)機(jī)、運(yùn)轉(zhuǎn)、貯存、運(yùn)輸或其他溫度循環(huán)狀態(tài)下，該方法綜合正弦或隨機(jī)振動(dòng)和過(guò)壓或電壓不足時(shí)運(yùn)轉(zhuǎn)的試驗(yàn)。
上述綜合試驗(yàn)方法適用于早期發(fā)現(xiàn)潛在故障，并在交貨前排除。
綜合試驗(yàn)方法的選擇并不統(tǒng)一，宜針對(duì)產(chǎn)品效果而選擇不同的應(yīng)力要素。

光學(xué)和光子學(xué)儀器溫度變化與碰撞振動(dòng)綜合試驗(yàn)?zāi)康氖茄芯吭嚇拥墓鈱W(xué)、熱學(xué)、化學(xué)和電氣等性能受到低溫、高溫或溫度變化與碰撞或隨機(jī)振動(dòng)綜合影響時(shí)的變化程度。
健明迪檢測(cè)可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種光學(xué)和光子學(xué)儀器的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸楣鈱W(xué)和光子學(xué)儀器產(chǎn)品提供專業(yè)的低溫、高溫或溫度變化與碰撞或隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)等環(huán)境試驗(yàn)服務(wù)。

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GB/T 12085.1-2022 光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗(yàn)方法 第1部分：術(shù)語(yǔ)、試驗(yàn)范圍
ISO 9022-22：2016光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗(yàn)方法第22部分： 低溫、高溫或溫度變化與碰撞或隨機(jī)振動(dòng)綜合試驗(yàn)
GB/T 12085.22-2022 光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗(yàn)方法 第22部分： 低溫、高溫或溫度變化與碰撞或隨機(jī)振動(dòng)綜合試驗(yàn)
DIN ISO 9022-22：2016光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗(yàn)方法第22部分： 低溫、高溫或溫度變化與碰撞或隨機(jī)振動(dòng)綜合試驗(yàn)
BS ISO 9022-22：2016光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗(yàn)方法第22部分： 低溫、高溫或溫度變化與碰撞或隨機(jī)振動(dòng)綜合試驗(yàn)
KS B ISO 9022-22：2016光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗(yàn)方法第22部分： 低溫、高溫或溫度變化與碰撞或隨機(jī)振動(dòng)綜合試驗(yàn)

光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。