高溫老化試驗是針對高性能電子產(chǎn)品（如：計算機整機，車用電子產(chǎn)品，電源供應(yīng)器，主機板、監(jiān)視器、等）仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測試的設(shè)備，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實驗設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競爭性的重要生產(chǎn)流程，該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電源電子、電腦、通訊、生物制藥等領(lǐng)域。

高低溫交變濕熱試驗與交變濕熱恒溫恒濕試驗屬同類試驗，只是叫法不同，高低溫交變濕熱試驗是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域必備的測試方法，用于測試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進行高溫、低溫、交變濕熱度或恒定試驗的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。

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●計算機類：電腦、顯示屏、主機、電腦元器件、醫(yī)療設(shè)備等精密儀器等 
●電子通信類：手機、射頻器、電子通信元器件等。
●電器類：家電、燈具、變電器等各類家電電器設(shè)備；
●其他：包裝箱、運輸設(shè)備等。