半導(dǎo)體器件低氣壓試驗(yàn)

GB/T 4937.1-2006 半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第1部分：總則
GB/T 4937.2-2006 半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第2部分：低氣壓
IEC 60068-2-13環(huán)境試驗(yàn)第2 部分：試驗(yàn)M：低氣壓

半導(dǎo)體器件低氣壓試驗(yàn)?zāi)康氖菧y(cè)定元器件和材料避免電擊穿失效的能力，而這種失效是由于氣壓減小時(shí)，空氣和其他絕緣材料的絕緣強(qiáng)度減弱所造成的。半導(dǎo)體器件低氣壓試驗(yàn)僅適用于工作電壓超過1 000 V的器件。
健明迪檢測(cè)環(huán)境可靠性實(shí)驗(yàn)中心擁有各種半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)設(shè)備，具備低氣壓試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸榘雽?dǎo)體器件、設(shè)備提供專業(yè)的低氣壓試驗(yàn)服務(wù)。

健明迪檢測(cè)環(huán)境可靠性實(shí)驗(yàn)中心擁有各種半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)設(shè)備，具備低氣壓試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸榘雽?dǎo)體器件、設(shè)備提供專業(yè)的低氣壓試驗(yàn)服務(wù)。

樣品應(yīng)按規(guī)定放置在密封室內(nèi)，并按規(guī)定把氣壓減小到某個(gè)試驗(yàn)條件。把樣品保持在規(guī)定的氣壓下，對(duì)它們進(jìn)行規(guī)定的試驗(yàn)。 在試驗(yàn)期間及試驗(yàn)前的20 min內(nèi)，試驗(yàn)溫度應(yīng)為25C±10C。
對(duì)器件施加規(guī)定的電壓，在從常壓到規(guī)定的最低氣壓并恢復(fù)到常壓的整個(gè)過程中監(jiān)測(cè)器件是否出現(xiàn)故障。